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Registro Completo |
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
07/02/2006 |
Data da última atualização: |
07/02/2006 |
Autoria: |
LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P. |
Título: |
Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). |
Ano de publicação: |
2005 |
Fonte/Imprenta: |
Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005. |
Idioma: |
Inglês |
Conteúdo: |
In this paper, we employ AFS to measure adhesion (pull-off force) between the AFM tip and two types of substrate. Adhesion maps are used to illustrate sample regions that had been contaminated with organic compounds. |
Palavras-Chave: |
Adhesion forces; Atomic Force Spectroscopy. |
Thesaurus Nal: |
roughness; van der Waals forces. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 00826naa a2200205 a 4500 001 1029342 005 2006-02-07 008 2005 bl --- 0-- u #d 100 1 $aLEITE, F. L. 245 $aAdhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). 260 $c2005 520 $aIn this paper, we employ AFS to measure adhesion (pull-off force) between the AFM tip and two types of substrate. Adhesion maps are used to illustrate sample regions that had been contaminated with organic compounds. 650 $aroughness 650 $avan der Waals forces 653 $aAdhesion forces 653 $aAtomic Force Spectroscopy 700 1 $aZIEMATH, E. C. 700 1 $aOLIVEIRA JÚNIOR, O. N. 700 1 $aHERMANN, P. S. P. 773 $tMicrosc Microanal$gv.11 (supp.3), p.130-133, 2005.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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URL |
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Registros recuperados : 66 | |
2. | | LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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11. | | HERRMANN, P.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. Atomic force spectroscopy as a tool to study the electrical conductivity of polyaniline and derivatives. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY - NANO, 9., 2006, Basel. Final Program... Basel, 2006. Entrada padronizada: HERRMANN, P. S. P.
Entrada padronizada: MATTOSO, L. H. C.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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12. | | BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; OLIVEIRA JR, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Efficient taste sensors made of bare metal electrodes. Sensor Letters, University Park, Pennsylvania, v. 4, n. 2, p. 1-5, 2006.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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14. | | STEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; FATIBELLO, O.; HERRMANN, P. S. P. Investigation of a sensitive layer of polyaniline as coating for microcantilever as a nanosensor. In: NANOMECHANICAL SENSING WORKSHOP-NMC, 9., Bombay Mumbai, India. Proceedings... Bombay: National Program on Micro and Smart Systems - NPMASS, Indian Nanoelectronics Users Program - INUP, 2012. p. 78-79.Tipo: Artigo em Anais de Congresso |
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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16. | | STEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Sensores de microcantilever revestidos com polímeros condutores, utilizado na detecção de umidade relativa. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 6., 2012, Fortaleza. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Fortaleza: Embrapa Agroindústria Tropical, 2012. p. 79-81. Editores: Maria Alice Martins, MOrsyleide de Freitas Rosa, Men de Sá Moreira de Souza Filho, Nicodemos Moreira dos Santos Junior, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.Tipo: Artigo em Anais de Congresso |
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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20. | | LEITE, F. L.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN, P. S. P.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H. Atomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs. LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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